關(guān)于地面用晶體硅怎樣才算合格的判斷?
關(guān)于本試驗(yàn)的合格判斷:
如果每一個(gè)試驗(yàn)樣品達(dá)到以下各項(xiàng)判斷,則認(rèn)為該組件設(shè)計(jì)通過了鑒定試驗(yàn),也通過了定型。
A 在標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試條件下,組件的最大輸出功率的衰減在每個(gè)單項(xiàng)試驗(yàn)后不超過規(guī)定的極限,每一組試驗(yàn) 程序后不超過規(guī)定值的8%;
B 在試驗(yàn)過程中,無組件呈現(xiàn)開路或接地故障現(xiàn)象;
C 無第7章中定義的任何嚴(yán)重外觀缺陷;
D 全部試驗(yàn)完以后,仍滿足絕緣測(cè)試要求;
E 組件的扭曲試驗(yàn)從開始到結(jié)束貫串整個(gè)過程,并在濕-熱試驗(yàn)之后;
F 個(gè)別試驗(yàn)會(huì)有一些特殊的要求。
如果兩個(gè)或兩個(gè)以上組件達(dá)不到上述判據(jù),該設(shè)計(jì)將視為達(dá)不到鑒定要求。如果一個(gè)組件未通過任一項(xiàng)試驗(yàn),取另外兩個(gè)滿足第3章要求的組件從頭進(jìn)行全部相關(guān)試驗(yàn)程序的試驗(yàn)。假如其中的一個(gè)或兩個(gè)組件都未通過試驗(yàn),該設(shè)計(jì)被判定達(dá)不到鑒定要求。如果兩個(gè)組件都通過了試驗(yàn),則該試驗(yàn)被認(rèn)為達(dá)到鑒定要求。
關(guān)于此實(shí)驗(yàn)的報(bào)告:
通過定型之后,試驗(yàn)機(jī)根據(jù)ISO/IEC 17025電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系程序給出鑒定實(shí)驗(yàn)報(bào)告證書,該證書應(yīng)包括測(cè)定的性能參數(shù),以及任何第一次試驗(yàn)未通過測(cè)試和重新試驗(yàn)的詳細(xì)情況。所有的證書或試驗(yàn)報(bào)告必須至少包含下列各項(xiàng)信息:
A 證書或報(bào)告的名稱;
B 測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的名稱和地址,以及測(cè)試進(jìn)行的地點(diǎn);
C 確認(rèn)證書或報(bào)告的每一業(yè)都有特別的序號(hào);
D 客戶的名稱和地址;
E 對(duì)測(cè)試的項(xiàng)目進(jìn)行說明和確認(rèn);
F 測(cè)試項(xiàng)目的性能參數(shù)和測(cè)試條件;
G 測(cè)試開始的日期和測(cè)試進(jìn)行的日期;
以上就是本章的上半部分,若想知道本章的下半部分,就請(qǐng)關(guān)注小編的另一篇文章哦!